蛍光X線分析（XRF）

リガク　３０７０Ｅ

原理

物質にX線を照射すると、物質を構成する元素固有のエネルギー（波長）を持つ蛍光X線（特性X線）が発生します。この蛍光X線のエネルギーを測定すると含有される元素がわかり（定性分析）、各元素の蛍光X線の強さから濃度を計算する（定量分析）ことができます。このように未知の物質にX線を照射し、そこから発生する蛍光X線（特性X線）を測定することで、物質の定性あるいは定量分析を行なう方法を蛍光X線分析法といいます。
蛍光X線分析法の方式には、分光結晶を用いた波長分散形（WDXRF）と半導体検出器（EDS）を用いたエネルギー分散形（EDXRF）があります。

特徴

1． 試料調整が容易で､簡単に定性分析ができます｡
2． 非破壊分析です｡

測定範囲

₉F～₉₂U

分析試料形状

φ10～φ30以内、厚さ30㎜以内（表面が平坦である事）

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