物質の表面にX線をあてて反射した回折X線を測定します｡ 回折X線の測定によって物質の定性や結晶状態を知ることができます｡
1． 固体（結晶性化合物で板､または粉体状のもの）の定性分析ができます｡ 2． 物質の結晶状態を知ることができます｡ 3． 物質の結晶化度を測定できます｡ 4． 結晶の格子間距離を測定できます｡
0～90°
φ10以内、厚さ5㎜以内 (顆粒・粉末可)
